簡(jiǎn)要描述:體積電阻率表面電阻率測(cè)試儀所有測(cè)試電壓(10V/50V/100/250/500/1000V) 測(cè)試時(shí)電阻結(jié)果直讀,免去老式高阻計(jì)在不同測(cè)試電壓下或不同量程時(shí)要乘以系數(shù)等使用不便的麻煩,使測(cè)量超高電阻就如用萬(wàn)用表測(cè)量普通電阻樣簡(jiǎn)便。既能測(cè)超高電阻又能測(cè)微電流
產(chǎn)品分類(lèi)
Product Category詳細(xì)介紹
品牌 | AIRTIMES/中航時(shí)代 |
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主要應(yīng)用范圍
測(cè)試過(guò)程 | 不正確的操作方式 | 后果 | 是否閱讀 |
開(kāi)機(jī)前 | 沒(méi)有將電壓撥至10V,電阻電流量程檔撥至104 | 過(guò)電流沖擊造成儀器放大器過(guò)電流而損壞 | |
測(cè)試過(guò)程 | 隨意調(diào)節(jié)后面板電壓量程而改變測(cè)試電壓 | 過(guò)電流或反向放電沖擊造成儀器過(guò)電流而損壞 | |
測(cè)試過(guò)程 | 改變屏蔽箱上體面電阻,表面電測(cè)測(cè)試開(kāi)關(guān) | 過(guò)電流或反向放電沖擊造成儀器過(guò)電流而損壞 | |
測(cè)試過(guò)程 | 測(cè)試電壓過(guò)高,導(dǎo)致測(cè)試材料擊穿 | 過(guò)電流或反向放電沖擊造成儀器過(guò)電流而損壞或測(cè)量性能降低 | |
測(cè)試過(guò)程 | 微電流測(cè)量線與高壓線短路 | 過(guò)電流或反向放電沖擊造成儀器過(guò)電流而損壞或測(cè)量性能降低 | |
測(cè)試完成 | 未將電壓量程撥至10V,電阻電流量程檔撥至104進(jìn)行關(guān)機(jī)。 | 過(guò)電流或反向放電沖擊造成儀器過(guò)電流而損壞或測(cè)量性能降低 |
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